X선 형광 분광기의 원리?
의 물리학X선 형광 분광기:
재료가 단파장 X선 또는 감마선에 노출되면 구성 원자가 이온화될 수 있으며 원자가 이온화 포텐셜보다 큰 에너지원으로 방사선에 노출되면 내부 궤도 전자를 제거하기에 충분합니다. 그러나 이것은 원자의 전자 구조를 불안정하게 만들고 외부 궤도의 전자를 불안정하게 만듭니다."백필"남겨진 구멍을 채우기 위해 더 낮은 궤도로.
의 과정에서"회복", 초과 에너지가 방출되고 광자 에너지는 두 궤도의 에너지 차이와 같습니다. 따라서 물질은 원자의 에너지 특성인 방사선을 방출합니다. 형광 방사선은 주로 1928년 Glocker와 Schreiber에 의해 처음 제안된 X선 빔을 사용하여 여기됩니다.
의 투과율PX선 형광 분광기또는 그 효율성은 보조 모노크로메이터 장치를 사용하여 결정할 수 있습니다. 이러한 측정은 가시광선 및 근자외선에서 어려움 없이 이루어집니다. 두 번째 단색기의 투과율은 첫 번째 단색기를 통해 광속을 측정한 다음 두 단색기를 통해 광속을 측정하여 결정됩니다.
절대 측정은 모노크로메이터의 절대 투과율을 알아야 합니다. 상대 측정의 경우 투과율은 다양한 파장에서 상대 단위로 측정할 수 있습니다. 이러한 진공 UV 측정은 실험적으로 상당한 어려움이 있으므로 일반적으로 보조 모노크로메이터가 사용됩니다. 회절 격자의 효율은 다양한 입사각에서 개별적으로 측정되었습니다. 교정 어려움은 많은 실험 단계에서 성공적으로 방지되었습니다.
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