X선 형광 분광기의 장점
1. 높은 분석 속도. 측정 시간은 측정 정밀도와 관련이 있지만 일반적으로 매우 짧고 샘플에서 측정되는 모든 요소를 2~5분이면 측정할 수 있습니다.
2.X선 형광 스펙트럼시료의 화학적 결합 상태와 관계가 없으며 기본적으로 고체, 분말, 액체 및 결정질, 비정질 및 기타 물질의 상태와 관련이 없습니다. (용기에 밀봉되어 있어도 가스를 분석할 수 있습니다.) 그러나 고분해능 정밀 측정에서는 파장 변화 등의 현상을 관찰할 수 있습니다. 특히 Ultrasoft X-ray 범위에서 이 효과는 더욱 두드러집니다. 화학 포텐셜 측정을 위한 파장 변화
삼.X선 형광 스펙트럼비파괴 분석을 할 수 있습니다. 측정하는 동안 화학적 상태가 변하지 않으며 시료의 비산 현상이 발생하지 않습니다. 동일한 샘플을 반복적으로 측정할 수 있으며 결과를 재현할 수 있습니다.
4.X선 형광분석은 물리적 분석 방법이므로 화학적 특성 측면에서 동일한 그룹에 속하는 요소도 분석할 수 있습니다.
5. 높은 분석 정밀도
6. 간단한 샘플 준비, 고체, 분말, 액체 샘플을 분석할 수 있습니다.
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