X선 형광 분광기 도입
X선 형광의 물리적 원리:
물질이 단파장에 노출되면엑스레이, 또는 감마선에 의해 구성 원자가 이온화될 수 있습니다. 원자가 이온화 전위보다 큰 에너지원을 가진 방사선에 노출되면 내부 궤도에서 전자를 제거하기에 충분하지만 이로 인해 원자의 전자 구조가 불안정해지고 전자가 외부 궤도에 있게 됩니다."따라잡다"남겨진 구멍을 채우기 위해 낮은 궤도로 이동합니다.
그 과정에서"회복", 초과 에너지가 방출되고 광자 에너지는 두 궤도의 에너지 차이와 같습니다. 따라서 물질은 원자의 에너지 특성인 방사선을 방출합니다. 형광 방사선은 주로 1928년 Glocker와 Schreiber가 처음 제안한 X선 빔을 사용하여 여기됩니다.
전송 측정
투과율X선 형광 분광계또는 그 효율성은 보조 단색 장치를 사용하여 결정될 수 있습니다. 이러한 측정은 가시광선 및 근자외선에서 어려움 없이 달성됩니다. 두 번째 모노크로메이터의 투과율은 첫 번째 모노크로메이터를 통과하는 광속을 측정한 후, 두 개의 모노크로메이터를 통과하는 광속을 측정하여 결정됩니다.
절대 측정을 위해서는 모노크로메이터의 절대 투과율을 알아야 합니다. 상대 측정의 경우 투과율은 다양한 파장에서 상대 단위로 측정할 수 있습니다. 이러한 진공 자외선 측정에는 상당한 실험적 어려움이 있으므로 일반적으로 보조 단색 장치가 사용됩니다. 회절 격자의 효율은 다양한 입사각에서 개별적으로 측정되었습니다. 많은 실험 단계에서 교정의 어려움을 성공적으로 피했습니다.
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