중성자 회절법과 X선 회절법의 차이
X선은 전자와 상호 작용하므로 원자에 대한 산란 강도는 원자 번호에 비례하는 반면 중성자는 원자핵과 상호 작용하며 다른 원자핵에 대한 산란 강도는 값에 따른 단조 변화의 함수가 아닙니다. 이러한 방식으로 중성자는 특히 격자에서 가벼운 요소의 위치(X선 감도가 불충분함)와 값에 인접한 요소의 위치(X선은 구별하기 쉽지 않음)를 결정하는 데 적합합니다.
동일한 원소에 대해 중성자는 서로 다른 동위 원소를 구별할 수 있으므로 중성자 회절은 특정 측면, 특히 수소와 중수소의 차이를 사용하여 유기 분자를 표지하고 연구하는 데 특별한 이점이 있습니다.
중성자에는 원자 자기 모멘트와 상호 작용하여 중성자 고유의 자기 회절을 생성할 수 있는 자기 모멘트가 있습니다. 자기 회절 분석을 통해 자성체 격자에서 자기 원자의 자기 모멘트의 크기와 방향을 결정할 수 있으므로 중성자 회절은 자기 구조를 연구하는 매우 중요한 수단입니다.
일반적으로 중성자는 X선보다 투과율이 훨씬 높아 두꺼운 용기가 필요한 고압, 저압, 고압 등의 조건에서 구조 연구에 더 적합하다. 중성자 회절의 주요 단점은 특수한 강력한 중성자 소스가 필요하며 소스 강도가 부족하기 때문에 종종 더 큰 샘플과 더 긴 데이터 수집 시간이 필요하다는 것입니다.
파장이 다른 중성자끼리 속도(에너지)가 다르다는 원리를 이용한 비행시간차 회절법은 기존의 실험기술과 조금 다르다. 주로 가속기와 같은 강한 펄스 중성자 소스에 사용됩니다.
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