휴대용 X선 형광 Xrf 분석

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휴대용 X선 형광 Xrf 분석
  • Aolong
  • 중국
  • 15 일
  • 300개/년

휴대용 X-레이 형광 Xrf 분석 기술을 사용하여 X-레이 형광은 물질 내 다양한 ​​원소를 동시에 측정할 수 있습니다. 휴대용 xrf는 사용자의 응용 요구 사항에 따라 Na에서 U까지 여러 요소를 측정하도록 구성할 수 있습니다. xrf 분석은 환경 보호, 고고학, 건축 자재, RoHS 규제 지침 및 기타 산업에서 널리 사용될 수 있습니다. 휴대용 xrf는 기업의 품질 관리를 위한 이상적인 선택입니다.

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XRF 분석의 기본 원리

다양한 원소의 전자 궤도 위치 에너지는 서로 다릅니다. 따라서 여기 후 방출되는 x선 광자 에너지는 서로 다릅니다. 즉, 각 원소는 해당 원소의 원자의 특정 에너지로 x선을 방출합니다. 이는 요소의 특성을 나타내므로 요소의 특성 X선이라고 합니다. 각 원소의 특성 X선은 고유한 에너지를 갖고 있으며, 특정 에너지로 검출된 X선을 통해 재료 샘플에 해당 원소가 존재하는지 확인할 수 있습니다.


휴대용 X선 형광 작동 원리

X선관과 고전압에서 생성된 원본 X선을 광학 필터에 의해 적절하게 필터링한 후 시료에 조사합니다. 시료에 포함된 원소의 특성 X선(X선 형광이라고 함)이 자극됩니다. X선 형광 스펙트럼은 에너지 분해능이 높은 X선 검출기를 사용하여 얻었습니다. 서로 다른 원소는 스펙트럼에서 서로 다른 스펙트럼 피크를 형성했습니다. 스펙트럼 피크의 강도는 샘플의 원소 함량에 정비례합니다. 검출기에 의해 검출된 에너지 스펙트럼은 컴퓨터로 분석되며, 스펙트럼 피크의 위치와 형태에 따라 시료에 포함된 원소의 종류를 정성적으로 분석합니다.

휴대용 xrf에는 시(핀) 또는 SDD 감지기가 장착되어 있습니다.

검출기의 분해능은 휴대용 XRF의 성능을 평가하는 주요 지표 중 하나입니다.

분해능 <145eV(분해능이 낮을수록 감도는 높아집니다.)

계수율>1000/초

크리스탈 영역>15mm2

베릴륨 창 두께 = 0.025mm

감지기 전력 < 1.2W


기술적인 매개변수

모델알-NP-6010A
사이즈 중량353mm(길이)×233mm(너비)×200mm(높이) 7.68kg
분석 원리휴대용 에너지 분산형 X선 형광 분석
요소 측정 범위나(11)~U(92)의 모든 원소
최소 측정 한계CD/HG/브르/Cr/납≤2ppm
샘플 형상임의의 크기, 불규칙한 모양
샘플 유형플라스틱/금속/필름/전력/액체 등
X선관대상물질
관전압5~50KV
관전류1~1000μA
샘플 노출 직경2,5,8mm
탐지기시-핀 또는 SDD 검출기, 고속 펄스 높이 분석 시스템
고전압 발생기X선 형광용 특수 HV 발생기
ADC2048개 채널
Xrf 분석 소프트웨어특허 소프트웨어 제품, 평생 무료 업그레이드
Xrf 분석 방법이론적인 α 계수법, 기본 모수법, 경험적 계수법
분석시간조정가능한 30~900 초
운영 체제 소프트웨어윈도우 XP
데이터 처리
체계
주인노트북 컴퓨터
CPU≥2.8G
메모리≥2g
CD 롬8×DVD
하드 디스크≥500G
표시하다14인치 LCD 디스플레이
근무 환경온도 10~35℃, 습도 30~90%RH

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